CAMT Bounce Up สัญญาณ

Camtek Ltd. พร้อมด้วยบริษัทย่อย พัฒนา ผลิต และจำหน่ายอุปกรณ์ตรวจสอบและวัดทางมาตรวิทยาสำหรับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ในสหรัฐอเมริกา จีน เกาหลี ยุโรป และเอเชียแปซิฟิก บริษัทนำเสนอ Hawk ซึ่งเป็นแพลตฟอร์มที่ออกแบบมาสำหรับ Advanced Packaging; Eagle G5 สำหรับการตรวจจับและวัดทางมาตรวิทยาที่ได้รับการปรับปรุง; Eagle-i ซึ่งเป็นระบบที่มอบความสามารถในการตรวจสอบและวัดทางมาตรวิทยาแบบ 2 มิติ; Eagle-AP ซึ่งตอบสนองตลาด Advanced Packaging โดยใช้เทคโนโลยีซอฟต์แวร์และฮาร์ดแวร์ที่มอบความสามารถในการตรวจสอบและวัดทางมาตรวิทยาแบบ 2 มิติและ 3 มิติบนแพลตฟอร์มเดียวกัน และ Golden Eagle ซึ่งเป็นระบบตรวจสอบและวัดทางมาตรวิทยาสำหรับแผงวงจรเพื่อจัดการกับความท้าทายของแอปพลิเคชัน Fanout Wafer Level Packaging รวมถึงการจำแนกข้อบกพร่องอัตโนมัติสำหรับภาพสีโดยใช้เทคนิค Deep Learning เพื่อลดและขจัดความจำเป็นในการตรวจสอบด้วยตนเอง บริษัทยังพัฒนา MicroProf AP ซึ่งเป็นเครื่องมือวัดทางมาตรวิทยาสำหรับเวเฟอร์สำหรับแอปพลิเคชันในขั้นตอนกระบวนการบรรจุภัณฑ์แบบ 3 มิติ; MicroProf DI ซึ่งเป็นเครื่องมือตรวจสอบด้วยแสงที่ช่วยให้สามารถตรวจสอบเวเฟอร์ที่มีโครงสร้างและไม่มีโครงสร้างได้; MicroProf FE ซึ่งเป็นเครื่องมือวัดทางมาตรวิทยาสำหรับเวเฟอร์แบบ 2 มิติ/3 มิติ; MicroProf FS ซึ่งเป็นเครื่องมือวัดทางมาตรวิทยาสำหรับเวเฟอร์ที่สามารถกำหนดค่าได้; MicroProf PT สำหรับแอปพลิเคชันการวัดทางมาตรวิทยาแบบไฮบริดสำหรับขนาดแผงวงจรทั่วไป; เครื่องมือวัดทางมาตรวิทยา MicroProf MHU ซึ่งเป็นหน่วยจัดการวัสดุสำหรับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์, MEMS, แซฟไฟร์ และ LED; MicroProf TL ซึ่งเป็นเครื่องมือวัดพื้นผิวด้วยแสงสำหรับการวัดพื้นผิว 3 มิติแบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบ; MicroProf 200 ซึ่งเป็นอุปกรณ์วัดสำหรับการจำแนกลักษณะพื้นผิวและฟิล์มแบบไม่สัมผัสและไม่ทำลาย; และ MicroProf 300 ซึ่งเป็นเทคโนโลยี SurfaceSens สำหรับการประกันคุณภาพ การพัฒนา และการผลิต บริษัทให้บริการผู้ผลิตเซมิคอนดักเตอร์, ผู้รับจ้างประกอบและทดสอบเซมิคอนดักเตอร์, ผู้ผลิตอุปกรณ์ครบวงจร และผู้รับจ้างช่วงการบรรจุภัณฑ์ระดับเวเฟอร์ Camtek Ltd. ก่อตั้งขึ้นในปี 1987 และมีสำนักงานใหญ่อยู่ที่ Migdal HaEmek ประเทศอิสราเอล